




X 射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测,EDX-280D X射线荧光光谱仪,对产品和材料质量进行无损检测,对人体进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段,也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。
由于OMA不再使用感光乳胶,避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理,测量工作,使传统的光谱技术发生了根本的改变,大大改善了工作条件,提高了工作效率;使用OMA分析光谱,测量准确迅速,方便,且灵敏度高,响应时间快,光谱分辨率高,测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机,绘图仪输出。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量,分析及研究工作中,特别适应于对微弱信号,瞬变信号的检测。
1 ) 3秒钟内可对金银饰品进行定性识别,30秒~60秒自动计算出首饰的含量2 ) 对样品无需任何物理和化学处理,即无损检测金银饰品3 ) 分析范围:能够分析金,铂,银,钯等含量0.3%~99.99%4 ) 安全性能指针符合要求(光线激发源为MO靶光管)5) 具有温湿度自动补偿功能6) 符合严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式(采用滑盖设计)7 ) 探头指针,性能好,寿命长;8) 全新32位软硬件系统,工作可靠,
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